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Neo Cleanliness Tester, auch Ionenverschmutzungstester genannt,
ist ein Gerät zur Messung des Grades der ionischen Verunreinigung auf einer Oberfläche. Es wird in der Regel verwendet, um die Sauberkeit von elektronischen Bauteilen und Geräten, wie z. B. Leiterplatten (PCB), zu prüfen, um sicherzustellen, dass sie frei von ionischen Verunreinigungen sind, die ihre ordnungsgemäße Funktion beeinträchtigen könnten.
Ionenkontaminationsprüfgeräte messen die Leitfähigkeit einer Oberfläche, d. h. die Fähigkeit der Oberfläche, einen elektrischen Strom durch sie fließen zu lassen. Ionische Verunreinigungen auf einer Oberfläche können deren Leitfähigkeit erhöhen, indem sie einen Rückstand geladener Teilchen hinterlassen, der den normalen Stromfluss in elektronischen Bauteilen und Geräten stören kann. Ionenverschmutzungstester können diese geladenen Teilchen aufspüren und ihre Konzentration messen, was zur Bestimmung des Grades der ionischen Verschmutzung auf einer Oberfläche verwendet werden kann
Seit der Entwicklung der Ionenverschmutzungsprüfgeräte gibt es Streit über die so genannten dynamischen oder statischen Prüfverfahren. Beide Seiten behaupten, sie könnten mehr Nutzen bringen als die jeweils andere. Um diese Probleme zu überwinden, bietet Ihnen das Noetel-Sauberkeitsprüfgerät die Flexibilität, die von Ihnen bevorzugte Methode anzuwenden, da beide Methoden den IPC-Normen entsprechen. Dies ist besonders für OEM-Hersteller wichtig, da ihre verschiedenen Kunden möglicherweise unterschiedliche Analysemethoden benötigen, was den Kauf von zwei Arten von Geräten erspart.
Unter ionischer Kontamination versteht man das Vorhandensein von Ionen (Atome oder Moleküle, die aufgrund des Verlusts oder der Zunahme von Elektronen eine positive oder negative Ladung aufweisen) auf der Oberfläche eines Objekts, die das ordnungsgemäße Funktionieren elektronischer Geräte oder Systeme beeinträchtigen können. Sie kann auftreten, wenn Ionen aus der Umgebung, wie Staub, Feuchtigkeit oder Schadstoffe, mit der Oberfläche des Objekts in Kontakt kommen und einen Rückstand geladener Teilchen hinterlassen. Ionische Verunreinigungen können in elektronischen und elektrischen Systemen Probleme verursachen, indem sie den normalen Stromfluss unterbrechen, Kurzschlüsse verursachen oder den ordnungsgemäßen Betrieb empfindlicher Komponenten stören. Es ist wichtig, elektronische Geräte und Systeme sauber und frei von ionischen Verunreinigungen zu halten, um ihre einwandfreie Funktion zu gewährleisten. Dies kann durch die Verwendung von Reinigungsmitteln und Schutzbeschichtungen sowie durch eine sachgemäße Handhabung und Lagerung erreicht werden.
In der Regel ist ionische Kontamination auf das Vorhandensein von Ionen in der Umwelt zurückzuführen, die mit der Leiterplatte in Kontakt kommen. Diese Ionen können durch eine Vielzahl von Quellen wie Staub, Feuchtigkeit oder Schadstoffe in der Luft eingebracht werden und einen Rückstand geladener Partikel auf der Oberfläche der Leiterplatte hinterlassen.
Ionische Verunreinigungen können in elektronischen und elektrischen Systemen Probleme verursachen, indem sie den normalen Stromfluss unterbrechen, Kurzschlüsse verursachen oder den ordnungsgemäßen Betrieb empfindlicher Komponenten stören. Es ist wichtig, elektronische Geräte und Systeme sauber und frei von ionischen Verunreinigungen zu halten, um ihre einwandfreie Funktion zu gewährleisten. Dies kann durch die Verwendung von Reinigungsmitteln und Schutzbeschichtungen sowie durch eine sachgemäße Handhabung und Lagerung erreicht werden.
Das Hauptziel der Reinigung besteht darin, Flussmittel- und Lötrückstände von bestückten Leiterplatten zu entfernen. Die überwiegende Mehrheit der PCB-Baugruppen in der Luft- und Raumfahrt-, Automobil-, Militär- und Telekommunikationsindustrie erfordert Baugruppen, die frei von schädlichen Verunreinigungen sind. Flussmittelrückstände, die auf der Baugruppe verbleiben, führen zu Delamination und/oder schlechter Benetzung. Ein zusätzlicher Vorteil ist, dass die Leiterplatten nach der Reinigung auch ästhetisch ansprechender aussehen.
Der Grad der ionischen Verunreinigung wird anhand der ionischen Leitfähigkeit der Lösung berechnet, mit der die Leiterplatte gereinigt wird. Das Ergebnis ist ein Durchschnittswert über die gesamte Fläche. Die Sauberkeitsprüfung ist heute ein Routineverfahren und wird von den Herstellern sowohl von unbestückten als auch von bestückten Leiterplatten durchgeführt. Häufig wird von ihnen verlangt, einen Ionenverschmutzungstester zu besitzen, um die Qualität ihres Prozesses sicherzustellen.
Diese Methode zur Prüfung der ionischen Verunreinigung beinhaltet eine thermische Extraktion ähnlich dem modifizierten ROSE-Test. Nach der thermischen Extraktion wird die Lösung mit verschiedenen Standards in einem Ionenchromatographen getestet. Die Ergebnisse zeigen die einzelnen vorhandenen Ionenarten und den Gehalt jeder Ionenart pro Quadratzoll an.
Die NaCl-Äquivalenz bezieht sich auf die Menge oder Konzentration von Natriumchlorid (Salz), die erforderlich ist, um eine Lösung mit der gleichen Leitfähigkeit herzustellen. Sie hat nichts mit der Menge an elementarem Natrium oder Chlorid zu tun, die in der Testlösung enthalten ist. Die NaCl-Äquivalenz ist ein Faktor, der zum Vergleich der Ergebnisse eines Ionentesters mit denen eines anderen verwendet wird.
Das modifizierte ROSE-Testverfahren beinhaltet eine thermische Extraktion. Die Leiterplatte wird für eine definierte Dauer einer erhitzten Lösungsmittellösung ausgesetzt. Durch diesen Vorgang werden die auf der Leiterplatte vorhandenen Ionen in die Lösungsmittellösung gezogen. Die Lösung wird mit einem Ionographen-Testgerät geprüft. Die Ergebnisse werden als auf der Leiterplatte vorhandene Ionen pro Quadratzoll angegeben.
IPC-TM-650 2.3.25: Widerstandsfähigkeit von Lösungsmittelextrakt (ROSE) Testmethode. Die ROSE-Testmethode wird zur Prozesskontrolle eingesetzt, um das Vorhandensein von ionischen Verunreinigungen festzustellen. Der IPC Grenzwert ist auf 1,56 μg/NaCl/cm.sq. festgelegt. Der Test wird mit einem Ionenprüfgerät durchgeführt, dieser identifiziert aber nicht die einzelnen Ionen. Bei diesem Verfahren werden die auf der Leiterplatte/PCBA vorhandenen Ionen in die Prüflösung gezogen. Die Ergebnisse werden als Gesamtmenge der auf der Leiterplatte vorhandenen Ionen pro Quadratzoll/cm angegeben.
| Prüfverfahren | IPC TM-650 REFERENZ |
| Ionenchromatographie | IPC TM 650 2.3.28 |
| SIR-Prüfung für Materialien und fertige Baugruppen | IPC TM 650 2.6.3 |
| IPC TM 650 2.6.3.1 | |
| IPC TM 650 2.6.3.2 | |
| IPC TM 650 2.6.3.3 | |
| Elektromigrationstest | IPC TM 650 2.6.14 |
| IPC TM 650 2.6.14.1 |
| Bellcore SIR-Test | GR 78 Kapitel 13.1 |
| Bellcore-Elektromigrationstest | GR 78 Kapitel 13.1 |
| Bellcore Fabricator SIR | Bellcore Kapitel 14.4 |
| BIC (R.O.S.E. Prüfung) | IPC TM 650 2.3.25 |
| BIC (Modifizierte R.O.S.E.-Prüfung) | IPC TM 650 2.3.25.1 |
NCT-Kapazität: 500x500mm
NCT PLUS Kapazität: 700x700mm
Prüfverfahren:Statisch/Dynamisch
Auflösung:0,001ug Nacl/cm.sq
Heizgerät:Option
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